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◆ X線・EUV検出器
1) シリコンフォトダイオード用接続部品
 

特 徴

●     100%内部量子効率(SXUVシリーズを除く)
●     耐放射線性(SXUVシリーズ)
●     広いダイナミックレンジ
●     超高真空対応可能
●     較正可能
 

米国IRD社(International Radiation Detectors)のシリコンフォトダイオードは、短波長領域(UV・
EUV・軟X線)の検出に利用されており、用途に合わせて、絶対値測定用AXUV、放射線耐力が高い
SXUVおよび紫外線検出用UVGの3シリーズから選択いただけます。
 
3シリーズとも、ダイオードのリニアアレイ、4極のビーム位置モニター、フィルター蒸着、ピンホール・
スリット付タイプを揃えており、一部を除き、高真空・超高真空へ対応しています。
 
 
 
 
                    
 
 
 
    
        
 AXUVシリーズの特徴
 
AXUV(Absolute XUV)シリーズは、入射部がSiO2(6〜8)nmの薄膜で構成されており、最広対応
波長 ( 0.04 nm ~ 1100nm)、エネルギー領域(1.12 eV ~ 30 keV)、および一部の領域で100%
内部量子効率(QE)を実現し、フォトンの絶対強度の測定、および低エネルギー電子・イオン検出に使用
可能です。(内部量子効率100%の領域はモデルにより異なります。)
 
 
 SXUVシリーズの特徴
 
SXUV(Strong XUV)シリーズは、入射部に放射線耐力の強いケイ素化金属の層があるため、
耐放射線性が高い反面、内部量子効率および感度の低下により絶対強度の測定には適しませんが、
高フラックスおよびUV/EUVパルス光源のエネルギー密度0.1μJ/cm2以上のフォトン検出に適しています。
 
 
 UVGシリーズの特徴
 
UVGシリーズの入射部には(40〜150)nmのSiO2層があり、内部量子効率100%の領域は波長
(130〜1100)nmに最適化されています。この領域では、AXUVシリーズと同様に、フォトンの絶対
強度の測定が可能です。
 
 
 周辺電気機器・アクセサリー
 
必要に応じて、周辺電子機器およびアクセサリーをお選びください。
 
 ・プリアンプ(フォトダイオードに合わせた連続光源またはパルス光源検出用)
 ・バイアスティー等の電子機器
 ・テフロンソケット、セラミックスソケット等(フォトダイオードの固定、取付け・取外し用)
 
   
    <フォトダイオード内蔵プリアンプ>
  <フォトダイオード用ソケット>
 
 
 
※ IRD社フォトダイオード製品のお見積りは、同社代理店ラドデバイスまでお問合せください。

  ・軟X線〜UV領域用Siフォトダイオード は こちら
  ・フォトダイオードの真空での使用について は
こちら

 泣純Cテックは、真空対応フォトダイオードの接続に必要な 真空電気部品 UHV対応カプトン絶縁被覆電線、コネクター、電流導入端子、アクセサリー等)を供給しています。

 
 
 
 
 
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